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微處理器內建自測試 (BIST)

微處理器內建自測試 (Built-in Self-Test, BIST) 是一種將測試邏輯直接整合到微處理器內的技術。這意味著,微處理器本身具備自我檢測的能力,能夠在不依賴外部測試設備的情況下,對內部結構進行測試,驗證其功能是否正常。 為什麼需要 BIST? 提高測試效率: BIST 能夠在製造過程中快速、自動地對微處理器進行測試,縮短測試時間。 降低測試成本: 減少對 中國學生電話號碼表 外部測試設備的依賴,降低測試成本。 提升產品可靠性: 在產品出廠前,透過 BIST…

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