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可測試性設計 (Design for Testability, DFT) 是一種在集成電路設計階段，特意加入一些額外的硬體或軟體機制，以提高電路的可測試性。對於微處理器來說，DFT 能夠有效地降低測試成本、縮短測試時間，並提高故障覆蓋率。 為什麼需要 DFT？ 提高產品可靠性： DFT 能夠在製造過程中及早發現並排除缺陷，提高產品的可靠性。 降低測試成本： DFT 可以減少 印度兼職求職者電話號碼列表 對外部測試設備的依賴，降低測試成本。…